专利DE102014211514B4涉及一种用于确定流动介质中颗粒特性的方法和装置。该发明通过分析穿过测量体积的颗粒、液滴或类似物体的光散射信号,为光学颗粒表征和喷雾诊断提供支持。
https://patents.google.com/patent/DE102014211514B4/
该方法尤其适用于喷雾、流动、乳液、悬浮液及其他多相体系中的颗粒和液滴测量。它为能够在无直接机械接触的情况下表征单个颗粒或液滴的光学测量系统提供了技术基础。


颗粒和液滴的光学测量
在许多工业和科学应用中,颗粒和液滴在气体或液体流中运动。它们的粒径、速度、光学行为以及与材料相关的特性会影响工艺稳定性和产品质量。
专利DE102014211514B4采用一种光学测量方法应对这一挑战。该方法评估颗粒或液滴与特定形状的光场相互作用时产生的时间分辨光散射信号。这些信号可提供有关被测物体特性的信息。
在喷雾诊断中的意义
该专利构思与喷雾诊断、液滴表征和光学颗粒测量密切相关,可为需要实时检测和评估单个液滴或颗粒的应用提供支持。
这对于喷雾过程、涂装技术、雾化研究、含颗粒流动以及工业过程监测都十分重要。在此类过程中,可靠的颗粒和液滴信息有助于用户了解喷雾行为并检测运行条件的变化。
在颗粒表征领域的应用潜力
该发明可为研究实验室和工业环境中的测量系统提供支持。可能的应用包括喷雾测量、颗粒表征、液滴分析、过程监测、质量控制和材料评估。
先进测量系统的技术背景
专利DE102014211514B4是面向喷雾和颗粒流的先进光学测量技术的技术基础之一。它为开发用于液滴粒径分析、颗粒速度测量和面向工艺的喷雾诊断的紧凑型测量系统提供支持。
该专利方法还将经典光学测量原理与后续发展的AI辅助信号分析及现代喷雾监测技术联系起来。



